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當前位置:首頁產品中心實驗檢測儀器精密測量投影儀PZ-EVM-2515GPZCS投影測量儀

PZCS投影測量儀

產品簡介

PZCS投影測量儀,結合傳統光學與影像技術并配備2.5D測量軟件。可將以往用肉眼在傳統顯微鏡下觀察到的影像傳輸到電腦中作各種量測,并將測量結果存入電腦中以便日后存檔或發送電子郵件。其操作簡單、性價比高、準確度高、測量方便、功能齊全、穩定可靠。適用于產品檢測、工程開發、品質管理。在機械加工、精密電子、模具制造、塑料橡膠、五金零件等行業都有使用。

產品型號:PZ-EVM-2515G
廠商性質:生產廠家
訪問量:2027
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PZCS投影測量儀本系列是一款高精度影像測量儀,結合傳統光學與影像技術的2.5D測量軟件。可將以往用肉眼在傳統顯微鏡下觀察到的影像傳輸到電腦中作各種量測,并將測量結果存入電腦中以便日后存檔或發送電子郵件。其操作簡單、性價比高、準確度高、測量方便、功能齊全、穩定可靠。適用于產品檢測、工程開發、品質管理。在機械加工、精密電子、模具制造、塑料橡膠、五金零件等行業都有使用。

PZCS投影測量儀產品參數:

u  變焦鏡筒:采用光學變焦物鏡,光學放大倍率0.7X~4.5X,視頻總放大倍率40X~400X連續可調,物方視場:10.6-1.6mm,按客戶要求選配不同倍率物鏡。

u  攝像機:配備低照度SONY機芯1/3′彩色CCD攝像機,圖像表面紋理清晰,輪廓層次分明,保證擁有測量畫面。可以選配1/2′CMOS130萬像素攝像機。

u  底座:儀器底座采用高精度天然花崗石,穩定性高,硬度高,不易變形。

u  光柵尺:儀器平臺帶有高精度光柵尺(X,Y,Z三軸),解析度為0.001mm。Z軸通過二次聚焦可實現對溝槽、盲孔的深度進行測量。

u  光源:采用長壽命LED環形冷光源(表面光及底光),使工件表面照明均勻,邊緣清晰,亮度可調。

u  導軌:雙層工作平臺設計,配備高精度滾動導軌,精度高,移動平穩輕松。

u  絲桿:X,Y軸工作臺均使用無牙光桿摩擦傳動,避免了絲桿傳動的間隙,靈敏度大大提高,亦可切換快速移動,提高工作效率。

 

儀器型號

EVM-1510G

EVM-2010G

EVM-2515G

EVM-3020G

EVM-4030G

金屬臺尺寸(mm)

354×228

404×228

450×280

500×330

606×466

玻璃臺尺寸(mm)

210×160

260×160

306×196

350×280

450×350

運動行程(mm)

150×100

200×100

250×150

300×200

400×300

儀器重量(kg)

100

110

120

140

240

外型尺寸L*W*H

756×540×860

670×660×950

720×950×1020

 

PZCS影像測量儀測量軟件簡介:

繪圖功能:可繪制點、線、圓、弧、樣條曲線、垂直線、平行線等,并將圖形輸入到AutoCAD中,實現逆向工程得到1:1的工程圖。

自動測繪:可自動測繪如:圓、橢圓、直線、弧等圖形。具有自動尋邊、自動捕捉、自動成圖、自動去毛邊等功能,減少了人為誤差。

測量標注:可測量工件表面的任意幾何尺寸,不同高度的角度、寬度、直徑、半徑、圓心距等尺寸,并可在實時影像中標注尺寸。

SPC統計分析軟件:提供了一系列的管制圖及多種類型的圖表表示方法,使品管工作更方便,提升了品質管理的效率。

報表功能:用戶可輕易地將測量結果輸出至WORD、EXCEL中去,自動生成檢測報告,超差數值自動改變顏色,特別適合批量檢測。

鳥瞰功能:可察看工件的整體圖形及每個尺寸對應的編號,直觀的反應出當前的繪圖位置,并可任意移動、縮放工件圖。

實時對比:可把標準的DXF工程圖調入測量軟件中與工件對比,從而快速檢測出工程圖和實際工件的差距,適合檢測比較復雜的工件。

拍照功能:可將當前影像及所標注尺寸同時以JPEG或BMP格式拍照存檔,并可調入到測量軟件中與實際工件做對比。

光學玻璃:光學玻璃可檢驗X、Y軸向的垂直度,設定比例尺,使測量數據與實際相符合。

客戶坐標:測量時無需擺正工件或夾具定位,用戶可根據自己的需要設置客戶坐標(工件坐標),方便、省時提高了工作效率。

精密影像測繪儀儀器特點:

經濟型影像式精密測繪儀VMS系列結合傳統光學與數字科技,具有軟件功能,可將以往用肉眼在傳統顯微鏡下所觀察到的影像將其數字化,并將其儲存入計算機中作各式量測、繪圖再可將所得之資料儲存于計算機中,以便日后存盤或電子郵件的發送。該儀器適用于以二座標測量為目的應用領域如:品質檢測、工程開發、繪圖等用途。在機械、模具、刀具、塑膠、電子、儀表等行業使用。

變焦鏡筒:采用光學變焦物鏡,光學放大倍率0.7X~4.5X,視頻總放大倍率:40X~400X,可按客戶要求選配不同倍率物鏡。

攝像機:配備低照度1/3”彩色CCD攝像機,圖像表面紋理清晰,輪廓層次分明,保證擁有測量畫面。

底座:儀器底座采用高精度天然花崗石,穩定性高,硬度高,不易變形。

光柵尺:儀器平臺帶有精密光柵尺(X、Y、Z三軸),解析度為0.001mm。Z軸通過二次聚焦可實現對溝槽、盲孔的深度進行測量。

光源:采用長壽命LED環形冷光源(表面光及底光),使工件表面照明均勻,邊緣清晰,亮度可調。

導軌:雙層工作平臺設計,配備高精度滾動導軌,精度高、移動平穩輕松。

絲桿:X、Y軸工作臺均使用無牙光桿磨擦傳動,避免了絲桿傳動的背隙,靈敏度大大提高,亦可切換快速移動提高工作效率。

 

 

光學成像誤差分析

任何精密儀器都會有誤差,盡量減小誤差,是我們需要做的。是近年來基于計算機視覺檢測技術發展起來的一種高效率的精密測量儀器,廣泛應用于機械制造、電子、汽車和航天航空等工業中。它可以用來進行零部件的尺寸、形狀及其相互位置的在線檢測外,還可應用于劃線、定中心孔、光刻、集成線路板對準等。由于它的通用性強、測量范圍大、精度高、性能好、實時性強、能與柔性制造系統相連接,所以應用相當多。影像測量是將被測對象的圖像當作檢測和傳遞信息的測量方法,其目的是從圖像中提取有用的信號,而基于圖像分析、識別來進行測量。圖像是指對物體的發光以及反射光的視覺印象。因為計算機只能處理數字信息,所以圖像并不能直接由計算機進行處理,一幅圖像在用計算機進行處理之前先轉化為數字形式,成為數字圖像。因此,一個典型的圖像測量系統主要由以下幾個部分組成:光源、機臺、CCD攝像機、圖像采集卡、運動控制系統等,通過各個部分的組合來完成各種不同環境高精密影像檢測任務。在利用CCD攝像機進行實時影像測量時,攝像機采集圖像時所產生的誤差已經成為測量系統中的主要誤差,它直接制約、影響著系統的測量精度。因此必須對攝像機所產生的誤差進行分析與檢校,以便對系統的精度進行評價。
    誤差分析
攝像機所產生的誤差主要由它的光學成像鏡頭, CCD器件本身的成像質量、以及圖像采集裝置(含圖像采集卡等)共同產生,一般分為光學誤差、機械誤差、電學誤差等。其中電學誤差有CCD器件所固有;機械誤差則產生于測量儀制造和裝配過程中,通過提高制造裝配質量可以有效地減小該項誤差。光學誤差主要存在于成像光路和器件所帶來的失真或畸變。由于攝像機的制造和工藝等原因,如入射光線在通過各個透鏡時的折射誤差和CCD點陣位置誤差等,光學系統存在著非線性的幾何失真,使得目標像點與理論像點之間存在多種類型的幾何畸變。
1)徑向畸變:徑向畸變主要是由于CCD鏡頭形狀存在的缺陷引起的,是關于攝像機鏡頭的主光軸對稱。
2)偏心畸變:偏心畸變主要是由光學系統光心與幾何中心不*造成的,即各透鏡的光軸中心不能嚴格共線。
3)薄棱鏡畸變:薄棱鏡畸變是由于鏡頭設計、制造缺陷和加工安裝的誤差造成的,這類畸變相當于在光學系統中附加了一個薄棱鏡,不僅會引起徑向偏差,而且引起切向偏差。

影像儀(二次元)常用鏡頭

影像儀(二次元)常用鏡頭 根據鏡頭的性能和外形區分,目前主要有四種類型的鏡頭,主要有自動變焦鏡頭、P型、E型、L型和等類型,分別敘述如下:

1.自動變焦鏡頭

(1)為自動定位鏡頭本身瞳焦已經調節好,需要檢驗從大倍率到小倍率的清晰度,是否*、是否清晰。

(2)檢驗同軸度,即大倍率到小倍率取像在同一位置,不能偏移或偏移太大,均視為不良品,必需重新更換鏡頭。

(3)光學放大倍率為0.7—4.5X。

(4)清晰度根據校正塊、實際對象成像反映來進行判讀。

3.E型鏡頭

(1)此鏡頭為普通工業鏡頭,需要手動調節瞳焦,在機臺安裝好以后,手動調節使用大倍率和小倍率時,圖像同樣的清晰,如果不能調節清晰度視為不良品,如果調節后鏡頭有晃動等不穩定因素存在,也視為不良品。

(2)檢驗同軸度,即大倍率到小倍率取像在同一位置,不能偏移或偏移太大,均視為不良品,必需重新更換鏡頭。

(3)光學放大倍率為0.7—4.5X。

(4)清晰度根據校正塊、實際對象成像反映來進行判讀。

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