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PRODUCTS CNTER當前位置:首頁產(chǎn)品中心光學(xué)測量儀器共面性測量儀PZ-430DBGA共面度檢測儀
BGA共面度檢測儀結(jié)構(gòu)美觀大方,操作簡便,結(jié)合本公司自主研發(fā)的測量軟件,可實現(xiàn)準確的元器件共面性、工件外形尺寸等測量,性價比高、拓展性強、功能全面、可滿足各種常規(guī)測量需求。
產(chǎn)品分類
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BGA共面度檢測儀是建立在CCD數(shù)位影像的基礎(chǔ)上,通過柱面物鏡將激光擴散為線激光后投射在被測目標物表面形成漫反射.使反射光在CMOS上成像后.通過檢測位置及形狀的變化測量位移及形狀.(簡單來說就是通過激光傳感器掃描出被測物體表面點云形貌.通過軟件抓取點.使用最小二乘法.擬合平面.得出平面度.依托于計算機屏幕測量技術(shù)和空間幾何運算的強大軟件能力而產(chǎn)生的,具有高度與自動化特點。其軟讓坐標尺寸測量變得便捷而愜意,擁有基于機器視覺與過程控制的自動學(xué)習(xí)功能,依托數(shù)字化儀器高速而精準的走位,可將測量過程的路徑,對焦、選點、功能切換、人工修正、燈光匹配等操作過程自學(xué)并記憶??梢暂p松學(xué)會操作員的所有實操過程,結(jié)合其自動對焦和區(qū)域搜尋、目標鎖定、理匹選點的模糊運算實現(xiàn)人工智能,可自動修正由工件差異和走位差別導(dǎo)致的偏移實現(xiàn)精確選點,具有高精度重復(fù)性。從而使操作人員從疲勞的精確目視對位,頻繁選點、重復(fù)走位、功能切換等單調(diào)操作和日益繁重的待測任務(wù)中解脫出來,成百倍地提高工件批測效率,滿足工業(yè)抽檢與大批量檢測需要。
產(chǎn)品原理:
通過線激光對芯片有焊錫球及的表面,或者IC上的引腳面進行掃描,采集出三維點集數(shù)據(jù),并由軟件處理生成工件的3D圖形,通過軟件算法提取3D圖中每個焊錫球的高點或者低點,再用所有最高點或者低點生成一個平面,并計算出平面度值即為焊錫球或者引腳共面性。
產(chǎn)品應(yīng)用:
BGA共面度檢測儀廣泛應(yīng)用于晶元、芯片(DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、LGA、PGA)等共面性檢測,機械制造、電子、汽車、五金、塑料、模具等行業(yè),可以對工件尺寸、形狀和位置公差進行精密檢測,從而完成零件檢測、外形測量、過程控制等任務(wù)。
產(chǎn)品規(guī)格:
基本參數(shù) | |
XY軸視覺量程 | 400mm×300mm |
XY軸激光掃描量程 | 400mm×300mm |
Z軸量程 | 100mm |
XYZ光柵數(shù)顯分辨力 | 1µm |
單只共面性測試時間 | 當芯片長寬尺寸≤30mmX30mm,焊球或引腳數(shù)≤400個時 單只共面性測試時間≤30秒 |
視覺影像系統(tǒng) | |
視覺鏡頭倍率 | 0.7X~4.5X |
視頻總倍率 | 約18X~230X |
視覺鏡頭視場 | 約1mm~8mm |
視覺鏡頭工作距離 | 約90mm |
XY視覺測量示值誤差 | ±(3+L/200)µm
|
工業(yè)相機分辨率 | ≥200W |
底光源和環(huán)形光源: | LED冷光源 |
線激光頭參數(shù) | |
線激光Z向靜態(tài)測量范圍 | 6mm |
激光線總寬度 | 30mm |
線激光Z向線性精度 | ±5µm |
線激光Z向重復(fù)精度 | 0.5µm |
激光線點間距 | 15µm |
工控主機及顯示器 | |
CPU | Intel i7
|
內(nèi)存 | 32G |
液晶顯示器 | 23.8寸 |
硬盤 | 2TB |
其 它 技 術(shù) 參 數(shù) | |
電源 | AC220V 50/60HZ 1200W |
儀器凈重 | 約800kg |
儀器外形尺寸(長*寬*高) | 1100mm×1000mm×1550mm |
使用環(huán)境 | 室溫20℃±2℃,濕度低于60%,振動<0.002g,低于15Hz |
測試效果:
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